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比對顯微鏡、微物證據、槍械、彈道、工具痕跡、文件比對、刑事鑑定

特殊鑑識顯微鏡

對於特殊鑑識,您可以有更方便的比對顯微鏡。來自美國的LEEDS針對不同需求提供LCF、LCT型比對顯微鏡,亦有簡易的學生型微證據LCT-s比對顯微鏡可選擇。

自動彈道比對、比對顯微鏡、微物證據、槍械、彈道、工具痕跡、刑事鑑定

自動彈道比對分析系統

1991年,來自加拿大的自動彈道比對先驅-Michael Barrett先生,利用光與電科學,創造了IBIS (Integrated Ballistics Identification System)

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